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        紫外可見分光光度計測試雜散光的詳細步驟

        發布時間:2015-01-29    點擊次數:1645
          

        根據量子光學理論,波長是能量的倒數,波長短能量大,容易產生雜散光,而220nm處屬于短波部分;根據儀器學理論中的電光源理論,氘燈在220nm處能量很小,即信號很小,容易顯現雜散光。

         

        因此,紫外可見分光光度計只測試220nm處的雜散光,不測試340nm處的雜散光,這樣是不正確的,需測試220nm處雜散光。因為根據儀器學理論中的光電發射理論,光電倍增管在220nm處的光譜響應(靈敏度)低,容易顯現雜散光。而測試340nm處雜散光的原因是完全不同的,因為340nm處一般是氘燈換鎢燈和儀器調換濾光片的地方,此時zui容易產生雜散光。

         

        所以,對于紫外可見分光光度計來講,應該測試220nm340nm兩處的雜散光。紫外可見分光光度計雜散光測試步驟,首先將參比液注入配對石英石吸收池,分別放置在參比池座和試樣池座內。再測定波段掃描基線并使之平滑。將減光片插入試樣光路的濾光片槽內,其讀數即為減光片的衰減值K,然后將減光片插入參比光路的濾光片座內,將石英吸收池中的蒸餾水依次換成上述截止濾光液,插入試樣試樣池座中,在相應的波段內掃描、打??;在記錄紙的作標上量取測定波長處的透光度,乘以衰減值K,即得各測定波長處的雜散光值。

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